Klyuchnik Aleksandr profile picture

Klyuchnik Aleksandr

Is this your author profile? Create an account to claim and customize it!

Stand Alone

Стойкость ИМС в электромагнитных полях импульсного радиоизлучения Аспекты методики исследования стойкости интегральных микросхем (ИМС), эксперименты, модели повреждения